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低温冲击试验设备引线孔：可在在箱体的左侧面开设 1 个或多个直径为Ф50mm或Ф100mm的引线孔用于测试半导体电源和测试信号线引入，带有测试孔密封盖；
-65℃冷热冲击试验箱温湿度控制仪表：可编程台通TT-5188控制器，7寸大屏幕，触摸屏输入，中英文切换。根据用户要求可任意设定不同温度段做冲击试验。
三箱式冷热冲击老化机使用的温度运行控制系统如下： 控制器:LED数显（P、I、D＋S、S、R.）微电脑集成控制器
二箱式温度冲击箱温度范围：(A：-40℃～150℃；B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃)；(其它温度范围要求可跟业务员咨询及确认)
高低温冲击实验箱程序温度恢复时间：≤5min(冷热温度冲击机|高低温温度冲击试验机的恢复时间与暴露温差、冷却水温、恒温时间、样品重量有关)
高低温冲击反应箱冲击原理是采用气体驱逐高、低温槽的冷热温到摆放产品槽的空间内完成试验。
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