冷热高低温冲击模拟测试箱

简要描述：冷热高低温冲击模拟测试箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，

产品分类

详细介绍

冷热高低温冲击模拟测试箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验

冷热高低温冲击模拟测试箱简易参数表：

型号		AP-CJ-50L	AP-CJ-80L	AP-CJ-150L	AP-CJ-1000L
工作室尺寸D×W×H		350×350×400	500×400×400	600×500×500	1000×1000×1000
功率（KW）A/B/C		20/21/22	21/22/23	22/23/25	50/55/65
性能指标	温度范围	A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃C:-65℃～150℃
	温度波动	±0.5℃;均匀度±2℃
	样品区温度波动	±0.5℃（恒温时）
	样品区承重	30kg	30kg	50kg	60kg
温湿度运行控制系统	控制器	LED数显（P·I·D +S·S·R）微电脑集成控制器
	度范围	设定度：温度0.1℃，指示度：温度0.1℃，解析度：0.1℃
	制冷系统	谷轮半封闭水冷式压缩机组/“"/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
	循环系统	耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
温度转换时间		从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S
温度恢复时间		≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）
温度冲击方式		两箱式/三箱式(两箱式电子产品高低温冲击试验箱/三箱式电子产品高低温冲击试验箱

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